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윗쪽 LA1235 라인의 시그널 플로우와 마이컴 제어

Author
SOONDORI
Date
2021-05-25 07:00
Views
4998
어제는 충분히 이해를 못한 상태에서... 살펴보았습니다.

1) Diode Logic Gate로 일종의 수문처럼 신호를 절체하여 Narrow 라인과 Wide 라인을 분리하고 있고 Narrow 라인은 다단 필터로 조금 더 깎아내는, 일반 튜너의 방식 그대로입니다.

2) 절체 신호는 저 멀리 마이컴에서, 또는 중간의 Gate 논리회로를 통해서 High/Low 제어신호 개념으로 전달될 것이고요.

3) 그런 조건에서 두 개 경로 중 하나로 신호가 흐르면 IC 직전에 있는 FET + 필터 코일을 거쳐 검파 대상이 되는 신호가 IC에 전달됩니다.

4) 이 흐름에 대해서 "다이오드가 들어 있으므로 일반 검파 전 신호와 다를 것이다"라는 제 언급을 철회하겠습니다. 이해 오류이죠. 어쨌든 정상적인 IF 신호가 흘러갈 것인데요.

이상을 정리하면 다음과 같습니다. 크게 보이게 하려고 90도 꺽어 놓았습니다.



"IC가 고장으로 단정하기 전에 동작 환경에는 문제가 없는가?"라는 관점의 탐색을 하고 있다고 보고...

FET 옆 코일에는 댐핑저항, 튜불러 커패시터 등 흔히 의심할 만한 부품들이 모여 있습니다. 물론 같은 시각으로 검파코일을 바라보았던 것이고요. 이런 부분에서 신호가 비정상이 된다면, IC 불량이 아님에도 문제가 생길 수 있다고 생각되네요.

Super Narrow 라인을 윗쪽 IC에 주입하고 반응에 차가 있으면 프론트-엔드~IC 입력 구간에 문제가 있을 것이라고 추정을 했는데 실제로 그런 게 확인이 된다면... 일감은 FET 옆 CAN 코일이 점검 대상이라고 생각됩니다.

또다른 방법으로서 프론트엔드 다음에 있는 OP.AMP 출력을 직결해 보는 방법도 있겠다 싶고요.

한편으로...

보내주신 스코프 파형에 있어서 두 가지의 높낮이는 대체로 같다고 보는 게 맞겠지요? 그렇다면 문제의 파형(=깔끔한 것)은 유효 성분이 제거된 것과 같은 그러니까 10.7Mhz Carrier만 있는 것으로 해석할 수도 있겠습니다. 이렇게 가정하고 언급하는 이유는 포커스가 과한 듯, 파형이 흐릿해서... 잘 식별이 안 됩니다.

말이 길어졌습니다. 저 말씀의 취지는 IC 불량 판정 이전에 검파코일, IC 앞쪽 코일의 상태를 의심해보자는 의견입니다.



그리고 Mute 전압에 대한 언급이 있었는데요. Mute On 즉, 시그널 레벨이나 상태가 엉망이어서 IC가 자동 Mute 신호를 트리거하면 저항이 달려 있는 저항에서는 High에 해당하는 6V쯤 되는 전압이 관측되는 게 맞다고 판단됩니다. 0V 즉, Low 상태라면 Mute Off이고 그것은 IC가 신호가 충분하고 유효하다고 판단한 것이겠네요.

전압 관측 = Mute On = (IC 회로의 자율적 판단으로) 신호 나쁨, 0V = Mute Off = 신호 좋음



그리고, 위쪽 보라색 라인은 마이컴/Gate 통제라인으로 생각되므로 High 즉, 5V 이상의 전압혹은 0V가... 프론트패널 스위치 조작에 따라서 나타나거나 사라지거나... 아마 토글 동작을 하게 되겠지요?

일단은 IC 불량 판정 전 그 앞에 있는 FET+CAN 코일라인 (그리고 그 앞쪽), 그 뒤에 있는 검파 CAN 코일 두 개가 확실히 문제가 없는지 확인하는 게 좋겠습니다.
Total 3

  • 2021-05-25 09:33

    박선생님...많은 도움에 감사드립니다.
    현재 Super narrow mode에서는 소리가 잘나오는 것으로 보아 일단 Front-end부는 이상이 없는 것으로 판단되므로 그 이후 Wide/narrow mode를 담당하는 회로도 윗쪽부분을 IFT를 포함하여 LA1235 출력 pin까지 차근차근 살펴봐야겠습니다.
    혹시라도 IFT와 검파코일에 내장된 튜블러콘덴서의 용량저하 또는 불량여부를 판별하는 방법 및 용량부족시 덧대는 세라믹콘덴서의 용량을 정하는 보다 손쉬운 방법이 있는지요?


  • 2021-05-25 11:00

    * 글 읽는 다른 분들을 위해 길게 쓰겠습니다.

    우선 코일(L)과 커패시터(C)가 LC 공진회로를 구성하고 LC 공진 회로에 부합되지 않는 신호는 저 멀리, 퇴짜를 맞으니까 일종의 필터처럼 작용을 할 것인데요. L의 값(인덕턴스, Inductance), C의 값(커패시턴스, Capacitance)는 정의 공식에 의해 주파수에 종속된 값을 보여줍니다. 주파수는 계측기 내장 발진기의 주파수이기도 하고요. 그래서 10uF@1Khz, 1mH@100Khz와 같이 적당한 계측 주파수를 표기해야 할 것라 생각하지만... 아무튼요.

    PCB에 마운트된 상태로 관측하는 것은 무리한 일이겠어요. 그래서 부품을 뽑고...

    1) RF 제너레이터로 10.7Mhz를 주입하고 오실로스코프 등 장비로 파형을 관측하는 방법이 있겠습니다. Sweep Marker 등 장비가 있는데 그 게 참... 일반 펑션 제너레이터는 1M 정도가 한계라서 따로 RF용을 구해야 하고 이것저것 복잡하고... DIYer에게는 부담가는 방법론이라 생각합니다.

    2) 그래서 알리익스프레스에서 구할 수 있는, 2만 원 정도인 간단한 LCR 계측기, 제가 쓰고 있는 Der Dee 대만제 계측기, 조금 더 욕심을 내서 50만 원을 초과하는 전문기업의 포터블 계측기... 저 끝에 있는, 주파수를 가변하고 전문적인 텍스처(부품 마운트하는 구조물)까지 포함하는 계측기 그러나 Old 빈티지가 되어 가격이 아주 많이 저렴해진 LCR 미터를 쓰게 됩니다.

    알리익스프레스 계측기의 테스트 주파수가 얼마인지는 모르지만 예를 들어 1Khz, 10Khz 정도라고 하면

    a) 커패시터를 제거한 상태에서 순수한 코일의 값을 읽고 (Core가 있다면 당연히 제거)
    b) 공진 주파수 공식에 의해 목표하는 C의 값을 산출한 다음
    c) 테스트 주파수 대 10.7Mhz의 배수 관계를 고려하여 약간 낮은 값일 것이라고 추정하고... -5%쯤이 좋을까요? 느낌 가는 대로 신품 커패시터를 붙이고
    d) 반응 확인하고 아니라면 아주 작은 용량을 추가하여 탑쌓기를 하다가 결정되면 단일한 것으로 대체하거나 아예 더 작은 값을 쓰며... 네... 차근차근 확인하는 방법 밖에는 없습니다. 안개속 Try & Error이죠.

    그나마 다행인 것은 10.7Mhz 부근은 50pF~100pF 정도가 흔한 것 같습니다. 물론 초과/부족분이 5p 정도만 되도 금방 Out of Scope가 되기 십상이라 밑바닥 고민은 여전하고요. 작은 트리머를 써서 더듬어 본 적도 있는데 그 결과가 어떠했는지 기억이 안 나네요. 아! 조절하기가 매우 힘들었던 것 같습니다. 코일/코어의 가변 폭에 비해 360 회전방식은 정밀도에 있어서 차이가 있기 때문이었고요.

    ---

    위 작업은 번거롭고 부품 파손 등 리스크가 있으니까

    1) 말씀드린 바와 같이 잘 작동하는 아래쪽 신호를 끌어다가 주입하고 확인을 하시거나 아니면,
    2) FET 입력 쪽에 있는 작은 커패시터 다리를 들어내고 그것을 C117(IC 입력라인) 2차에 직결하여 뭔가 달라지는 게 있는지를 확인해보시거나
    3) SSG/Full Output으로 10.7Mhz를 적당한 곳에 주입해보면 어떨까 합니다.

    물론 IC 우측의 검파코일.... 아니 정확하게는 검파코일이라고 부르는 게 불합리하겠네요. 검파는 이쪽에서 이루어지는 게 아니니까요. 아무튼 그 코일을 휘휘 돌리며 TP 반응을 살피는 것이 중요하겠습니다.

    당장은 정밀조정 그런 것은 뒷전이고 IC가 문제인지 아니면 동작 환경이 문제인지를 빨리 판단해야 하는 단계이니까 이런 식 우격다짐은 나름 시도의 가치가 있을 듯하고요. 이런 저런 입력 대체로 별 차이가 없다면 IC 불량이라고 생각하셔도 될까요?


  • 2021-05-25 14:32

    이론적으로는 머리속에 인지하고 있는 사항인데도 막상 시행하려면 나이가 들어 그런지 돋보기를 써도 작은 부품들은 잘 안보이고 생각대로 잘 안되더군요....
    찬찬히 시도해 보겠습니다.
    건강조심하시고 장시간 신경 써 주셔서 감사드립니다.


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